表面粗糙度儀SJ-400系列 可以輕易應(yīng)付表面螺紋、微細(xì)段差曲面形狀的高難度量測(cè)。若搭載DAT機(jī)能,可強(qiáng)化水平作業(yè),使量測(cè)更容易。使用高精度驅(qū)動(dòng)部+高分解能檢出器,實(shí)現(xiàn)超高精度量測(cè)。擁有豐富的參數(shù),并且可對(duì)應(yīng)各國(guó)的粗度規(guī)格。
表面粗糙度儀

 
 動(dòng)部.jpg)
圖解(1).jpg)
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一.測(cè)定本體部(性能參數(shù))
測(cè)量方式 |
有軌/無(wú)軌測(cè)量 |
測(cè)量范圍 |
Z軸 |
800?m, 80?m, 8?m (用備選探針最高可達(dá) 2,400?m) |
X軸 |
SJ-401: 25mm (1”) SJ-402: 50mm (2”) |
驅(qū)動(dòng)部 |
直線度 |
0.3?m/25mm |
測(cè)量速度 |
0.05, 0.1, 0.5, 1.0mm/s |
返回速度 |
0.5, 1.0, 2.0 mm/s |
高度-傾斜調(diào)整裝置 |
高度調(diào)整范圍 |
±1.5? |
傾斜調(diào)整范圍 |
10mm |
評(píng)價(jià)輪廓 |
主輪廓(P), 粗糙度輪廓 (R), 波形輪廓濾波 (W), DIN4776, MOTIF (R, W) |
評(píng)價(jià)參數(shù) |
Ra, Ry, Rz, Rq, Pc, R3z, mr, Rt, Rp, Rv, Sm, S, δc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Lo, Ppi, R,
AR, Rx, Δa, Δq, Ku, HSC, mrd, Sk, W, AW, Wte, Wx, Vo |
分析圖標(biāo) |
負(fù)荷曲線(BAC), 振幅分布曲線(ADC) |
區(qū)間數(shù) |
X1, X3, X5, XL* (*=任意長(zhǎng)度) |
任意長(zhǎng)度 |
0.1 to 25mm |
取樣長(zhǎng)度 (L) |
0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm |
打印寬度 |
48mm/紙寬: 58mm |
記錄倍率 |
垂直倍率 |
自動(dòng)放大10-100K |
水平倍率 |
自動(dòng)放大1-1K |
檢測(cè)器 |
檢測(cè)方法 |
差動(dòng)電感式 |
最小分辨率 |
0.000125?m (8?m 范圍) |
探針針尖 |
圓錐60°, 半徑 2?m, 鉆石 |
功能 |
用戶自定義 |
顯示窗口/粗糙度參數(shù)可選 |
數(shù)據(jù)補(bǔ)償 |
R面補(bǔ)償, 傾斜度補(bǔ)償 |
線規(guī)功能 |
顯示任意兩個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)差 |
D.A.T. 功能 |
在無(wú)軌測(cè)量中幫助調(diào)整水平 |
位移檢測(cè)模式 |
當(dāng)驅(qū)動(dòng)部停止運(yùn)行的同時(shí)輸入探針位移量 |
統(tǒng)計(jì)處理 |
最大值,最小值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差(s),合格率,柱狀圖 |
公差判定 |
可指定三個(gè)參數(shù)的上下偏差值 |
測(cè)量條件存儲(chǔ) |
五套測(cè)量條件(控制器) |
打印機(jī) |
熱敏打印機(jī) |
截止波長(zhǎng) |
0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm |
數(shù)字濾波 |
2CR, PC75 (相位校正), Gauss |
校正 |
Ra, 階差(輸入粗糙度樣件的自動(dòng)校正) |
電源 |
通過(guò)AC適配器, 內(nèi)置充電電池 (Ni-H) |
電池 |
充電時(shí)間 |
15 小時(shí) |
測(cè)量次數(shù) |
最多600 次,(無(wú)打印時(shí)) |
耗電量 |
43W (max.) |
尺寸 |
控制裝置 |
307x165x94mm |
高度-傾斜調(diào)整裝置 |
131x63x99mm |
驅(qū)動(dòng)部 |
128x36x47mm |
粗糙度標(biāo)準(zhǔn) |
JIS (JIS B0601-1994-1982), DIN, ISO, ANSI |
LCD 尺寸 |
觸摸屏 |
數(shù)據(jù)輸出 |
RS-232C 輸入/輸出, SPC 輸出 |
標(biāo)準(zhǔn)配件 |
AC適配器r,手提箱, 打印紙, 觸摸筆, 保護(hù)片, 無(wú)軌探針管殼,用戶手冊(cè), 快速用戶手冊(cè), 工具 | | |
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